穩(wěn)態(tài)及瞬態(tài)熱阻試驗(yàn)臺

穩(wěn)態(tài)及瞬態(tài)熱阻試驗(yàn)臺符合國標(biāo)的熱阻試驗(yàn)方法。本測試臺是在總結(jié)多年從事熱阻測試和熱阻測試技術(shù)研究的基礎(chǔ)上開發(fā)出的新型熱特性測試設(shè)備；該測試設(shè)備...... 【詳情】

晶閘管關(guān)斷時(shí)間及反向恢復(fù)電荷綜合參數(shù)測試臺

晶閘管關(guān)斷時(shí)間及反向恢復(fù)電荷測試臺是新開發(fā)設(shè)計(jì)的新型反向阻斷三極晶閘管關(guān)斷時(shí)間測試設(shè)備。該設(shè)備的試驗(yàn)方法符合GB/T15291-94、GB/...... 【詳情】

浪涌電流測試儀

電力電子器件在工作時(shí)，有時(shí)要承受較大的沖擊電流，器件的用途不同，要求器件能承受浪涌電流的能力也不同，為了檢測器件承受浪涌電流的能力，可產(chǎn)生一...... 【詳情】

HVDC檢測設(shè)備

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晶閘管串聯(lián)配對測試臺

串聯(lián)配對測試臺系統(tǒng)，是大功率晶閘管測試的重要檢測設(shè)備，該設(shè)備具有如下特點(diǎn)：1.該測試系統(tǒng)是一套高壓大電流的測試設(shè)備，對設(shè)備的電氣性能要求高。...... 【詳情】

晶閘管di/d及tgt電參數(shù)測試設(shè)備

1.該測試設(shè)備，能對晶閘管的通態(tài)電流臨界上升率（di/dt）及門極控制開通時(shí)間（tgt）等進(jìn)行測試。主要測試的參數(shù)：1.通態(tài)電流臨界上升率；...... 【詳情】

晶閘管di/dt、開通時(shí)間及窄脈沖壓降測試臺

di/dt、開通時(shí)間及窄脈沖壓降測試臺系統(tǒng)，是大功率晶閘管測試的重要檢測設(shè)備，該設(shè)備具有如下特點(diǎn)：1. 該測試系統(tǒng)是一套高壓大電流的測試設(shè)備...... 【詳情】

晶閘管dv/dt測試臺

該測試臺是專為測試晶閘管電壓上升率參數(shù)而設(shè)計(jì)的，是晶閘管出廠檢測的必備檢測設(shè)備。該測試臺具有測試精度高，測試操作方便、穩(wěn)定性及重復(fù)性好等優(yōu)點(diǎn)...... 【詳情】

靜態(tài)特性綜合測試儀

本測試臺適用于二極管、晶閘管及其它電力電子器件的交流穩(wěn)定性、直流穩(wěn)定性及門及特性等參數(shù)進(jìn)行測試。... 【詳情】

多工位高溫阻斷試驗(yàn)臺

本測試臺的測試數(shù)據(jù)通過計(jì)算機(jī)進(jìn)行監(jiān)測，可及時(shí)了解各個(gè)工位電壓及電流的變化曲線，也可查詢?nèi)我夤の幻總€(gè)時(shí)段的測試情況，對用戶了解元件在測試過程中...... 【詳情】

高溫阻斷試驗(yàn)臺

高溫阻斷測試臺的測試方法符合機(jī)械部JB/T7026-94標(biāo)準(zhǔn)和國標(biāo)GB/T15291-94。本測試臺可用以測量晶閘管的VDRM、VRRM、I...... 【詳情】

晶閘管通態(tài)壓降測試臺

晶閘管壓降測試臺是晶閘管、整流管的重要測試設(shè)備。測試單元符合國標(biāo)GB/T15291-94。本測試設(shè)備可用以測量晶閘管、整流管的VTM、ITM...... 【詳情】

雙向晶閘管觸發(fā)特性、維持電流測試儀

雙向晶閘管觸發(fā)特性、維持電流測試儀是測試晶閘管門極參數(shù)和維持電流的重要測試設(shè)備。該測試設(shè)備的測試方法符合機(jī)械部 JB/T 4192-1996...... 【詳情】

晶閘管門極觸發(fā)特性、維持電流測試儀

晶閘管門極參數(shù)測試臺是測試晶閘管門極參數(shù)的重要測試設(shè)備。測試單元符合國標(biāo)GB/T15291-94和機(jī)械部JB/T7626-94。本測試設(shè)備可...... 【詳情】

晶閘管阻斷特性測試臺

晶閘管阻斷特性測試臺的測試方法符合國標(biāo)GB/T15291-94和機(jī)械部JB/T7624-94、JB/T7626-94。本測試臺可用以測量晶閘...... 【詳情】

靜態(tài)參數(shù)試驗(yàn)臺

本測試臺適用于二極管、晶閘管及其它電力電子器件的交流穩(wěn)定性、直流穩(wěn)定性及門及特性等參數(shù)進(jìn)行測試。由直流穩(wěn)定性單元、交流穩(wěn)定性單元及門極特性單...... 【詳情】

晶閘管動態(tài)參數(shù)試驗(yàn)臺

晶閘管動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)，是大功率晶閘管測試的重要檢測設(shè)備，該設(shè)備具有如下特點(diǎn)：1.該測試系統(tǒng)是一套綜合的動態(tài)測試系統(tǒng)，綜合測試參數(shù)多，技術(shù)難...... 【詳情】

晶閘管綜合參數(shù)測試臺

晶閘管綜合參數(shù)測試系統(tǒng)，是大功率晶閘管測試的重要檢測設(shè)備，該設(shè)備具有如下特點(diǎn)：1.該測試系統(tǒng)是一套綜合的測試系統(tǒng)，綜合測試參數(shù)多，技術(shù)難度大...... 【詳情】

綜合測試系統(tǒng)

該套測試系統(tǒng)用于測試二極管、晶閘管及其它電力電子器件的靜態(tài)、動態(tài)參數(shù)、熱循環(huán)負(fù)載試驗(yàn)、高溫阻斷試驗(yàn)等一套綜合的測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)的測試控制完全...... 【詳情】

IGBT綜合參數(shù)測試系統(tǒng)2

IGBT綜合參數(shù)測試系統(tǒng)，是針對IGBT的各種性能特點(diǎn)而專門設(shè)計(jì)的一套全自動測試系統(tǒng)。包括靜態(tài)和動態(tài)多種參數(shù)測試。該測試系統(tǒng)完全采用自動控制...... 【詳情】